L’appellation "Scanning Force Microscope (SFM)" est aussi rencontrée.
Elle a été développée en 1986 par Gerd Binnig et ses collaborateurs.
Son principe est basé sur la mesure des mouvements (habituellement par LASER) d'une aiguille de taille nanométrique occasionnés par son approche de la surface.
Dans des conditions optimales, cette méthode d'analyse permet de séparer les "structures" de distantes de 0,1 nm ce qui permet à la "visualisation" des atomes et des molécules.
